人工晶狀體半成品測量儀是為人工晶狀體制造商提供的針對光焦度以及調(diào)制傳遞函數(shù)(MTF)的高品質(zhì)實(shí)時(shí)檢測儀，適用于所有類型的人工晶體測量及分析(折射型和衍射型)。被廣泛地應(yīng)用于物理量的可靠的測量如：距離、寬度、速度、厚度和平直度的測量在測量儀中的邊沿檢測器件，檢測發(fā)射光或反射光，以直接測量或間接測量被測物體的尺寸。
 

　　人工晶狀體半成品測量儀的主要優(yōu)點(diǎn)：
 

　　1.、測量散光，軸線及殘余散光。
 

　　2、數(shù)值化和圖形化整個(gè)表面的曲率分布。
 

　　3、測量鏡片表面任何區(qū)域的曲率半徑。
 

　　4、干涉條紋可以體現(xiàn)整個(gè)表面的光學(xué)特征。
 

　　5、對刀分析功能能夠提供加工過程中刀具的各種珍貴信息，如刀具精度，是否對準(zhǔn)，是否磨損等。
 

　　6、不需要特殊的防震平臺。
 

　　7、可測量樣品的整個(gè)表面區(qū)域，包括環(huán)形區(qū)域。
 

　　8、可以輕易分辨細(xì)微的表面缺陷，即便是某些其他設(shè)備不可見的細(xì)節(jié)。
 

　　人工晶狀體半成品測量儀包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺度為0.5度的光學(xué)角度測量儀組成。用于測試人工晶狀體在一個(gè)處方直徑內(nèi)的支撐眼組織和接近*接觸狀態(tài)。
 

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